產(chǎn)品介紹

探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個導通條件，從調(diào)節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據(jù)應(yīng)用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應(yīng)用于半導體及光電行業(yè)的電學參數(shù)測試。

此款為通用型1μm探針座，適用于對調(diào)節(jié)精度要求較高的測試實驗。

技術(shù)優(yōu)勢

.主體材質(zhì)采用進口航空鋁，表面噴砂氧化，優(yōu)質(zhì)的機械性能；

.采用進口交叉滾珠導軌，超高穩(wěn)定性;

.采用進口高分辨率微分頭驅(qū)動，提高整體位移精度；

. 多功能調(diào)節(jié)夾具，可以實現(xiàn)180°旋轉(zhuǎn)及60°定向傾斜調(diào)節(jié)；

.適用于在顯微鏡下定向調(diào)節(jié)探針，無視野遮擋;

.底部強力可調(diào)磁性底座，磁性吸附可達10Kg，保證扎針的穩(wěn)定性；

.可選配升級真空吸附，搭配7L/min真空泵。

細節(jié)展示

技術(shù)參數(shù)

常規(guī)選型

相關(guān)配件

同軸線纜，三同軸線纜

各種類型探針

應(yīng)用領(lǐng)域

適用于R/F測量，I/O點測量，直流DC測試，晶圓測試，電阻電壓測試，太陽能電池測試，光電流測試，半導體器件分析測試等。

譜量光電可根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求，定制通用型1μm探針座，以達更好的測試效果，具體信息可聯(lián)系詳詢。