產(chǎn)品介紹

探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個導(dǎo)通條件，從調(diào)節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據(jù)應(yīng)用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電行業(yè)的電學(xué)參數(shù)測試。

此款為通用型10μm探針座，具有較高的性價比。

技術(shù)優(yōu)勢

.主體采用進(jìn)口航空鋁，保證高穩(wěn)定性的同時，保證線性位移精度；

. 位移部分采用精密加工燕尾槽，保證位移精度;

.采用手輪驅(qū)動，雙頂絲設(shè)計(jì)，保證穩(wěn)定性；

. 多功能調(diào)節(jié)夾具，可以實(shí)現(xiàn)180°旋轉(zhuǎn)及60°定向傾斜，適用于在顯微鏡下定向調(diào)節(jié)探針，不阻擋視野；

.底部配可控磁性底座，磁性吸附能力5Kg，保證扎針穩(wěn)定性。

細(xì)節(jié)展示

技術(shù)參數(shù)

常規(guī)選型

相關(guān)配件

同軸線纜，三同軸線纜

各種類型探針

應(yīng)用領(lǐng)域

適用于R/F測量，I/O點(diǎn)測量，直流DC測試，晶圓測試，電阻電壓測試，太陽能電池測試，光電流測試，半導(dǎo)體器件分析測試等。

譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，定制通用型10μm探針座，以達(dá)更好的測試效果，具體信息可聯(lián)系詳詢。