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簡(jiǎn)要描述:測(cè)試探針作為探針臺(tái)的核心部件之一,主要用途是接觸連接待測(cè)件電極,為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)導(dǎo)通條件,從不同應(yīng)用場(chǎng)景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等,被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電等行業(yè)的測(cè)試。
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 鎢鋼探針·針尖直徑(μm) | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 |
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鎢鋼探針·針長(zhǎng)(mm) | 38 | 鎢鋼鍍金探針·針尖直徑(μm) | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 |
鎢鋼鍍金探針·針長(zhǎng)(mm) | 38 | 鎢鋼鍍金軟針·針尖直徑(μm) | 5/10/30/50/125 |
鎢鋼鍍金軟針·針長(zhǎng)(mm) | 51 | 鎢鋼角度探針·針尖直徑(μm) | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 |
鎢鋼角度探針·針長(zhǎng)(mm) | 32 | 鈹銅探針·針尖直徑(μm) | 3/10/30 |
鈹銅探針·針長(zhǎng)(mm) | 38 | 可測(cè)電流范圍 | 1fA-1A |
產(chǎn)品介紹
測(cè)試探針作為探針臺(tái)的核心部件之一,主要用途是接觸連接待測(cè)件電極,為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)導(dǎo)通條件,從不同應(yīng)用場(chǎng)景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等,被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電等行業(yè)的測(cè)試。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
.進(jìn)口鎢鋼探針,優(yōu)異的導(dǎo)電性能;
.探測(cè)線細(xì)而柔韌,最大限度減少對(duì)集成電路的損壞;
.我司特殊的鍍金工藝,保證針體機(jī)械屬性的同時(shí),進(jìn)一步優(yōu)化其導(dǎo)電性能;
. 可測(cè)電流范圍:1fA-1A;
.多款針尖直徑可選,滿足不同應(yīng)用需求;
產(chǎn)品圖片(盒裝)
常規(guī)選型
應(yīng)用領(lǐng)域
測(cè)試探針,作為探針臺(tái)附件之一,適用于R/F測(cè)量,I/O點(diǎn)測(cè)量,直流DC測(cè)試,晶圓測(cè)試,電阻電壓測(cè)試,太陽(yáng)能電池測(cè)試,光電流測(cè)試,半導(dǎo)體器件分析測(cè)試等。
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